- 數(shù)據(jù)庫收錄SCIE
- 創(chuàng)刊年份1989年
- 年發(fā)文量84
- H-index28
Journal Of X-ray Science And Technology
期刊中文名：X射線科學(xué)與技術(shù)雜志ISSN：0895-3996E-ISSN：1095-9114
該雜志國際簡稱：J X-RAY SCI TECHNOL，是由出版商IOS Press出版的一本致力于發(fā)布醫(yī)學(xué)研究新成果的的專業(yè)學(xué)術(shù)期刊。該雜志以INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION研究為重點(diǎn)，主要發(fā)表刊登有創(chuàng)見的學(xué)術(shù)論文文章、行業(yè)最新科研成果，扼要報(bào)道階段性研究成果和重要研究工作的最新進(jìn)展，選載對學(xué)科發(fā)展起指導(dǎo)作用的綜述與專論，促進(jìn)學(xué)術(shù)發(fā)展，為廣大讀者服務(wù)。該刊是一本國際優(yōu)秀雜志，在國際上有很高的學(xué)術(shù)影響力。
雜志介紹
Journal Of X-ray Science And Technology雜志介紹
《Journal Of X-ray Science And Technology》是一本以English為主的未開放獲取國際優(yōu)秀期刊，中文名稱X射線科學(xué)與技術(shù)雜志，本刊主要出版、報(bào)道醫(yī)學(xué)-INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION領(lǐng)域的研究動態(tài)以及在該領(lǐng)域取得的各方面的經(jīng)驗(yàn)和科研成果，介紹該領(lǐng)域有關(guān)本專業(yè)的最新進(jìn)展，探討行業(yè)發(fā)展的思路和方法，以促進(jìn)學(xué)術(shù)信息交流，提高行業(yè)發(fā)展。該刊已被國際權(quán)威數(shù)據(jù)庫SCIE收錄，為該領(lǐng)域相關(guān)學(xué)科的發(fā)展起到了良好的推動作用，也得到了本專業(yè)人員的廣泛認(rèn)可。該刊最新影響因子為1.7，最新CiteScore 指數(shù)為4.9。
本刊近期中國學(xué)者發(fā)表的論文主要有：
-
Super-resolution image reconstruction from sparsity regularization and deep residual-learned priors
Author: Zhong, Xinyi; Liang, Ningning; Cai, Ailong; Yu, Xiaohuan; Li, Lei; Yan, Bin
-
Mineral quantitative characterization method based on basis material decomposition model by dual-energy computed tomography
Author: Zhi, Weijuan; Zou, Jing; Zhao, Jintao; Xia, Xiaoqin
-
An Innovative Low-dose CT Inpainting Algorithm based on Limited-angle Imaging Inpainting Model
Author: Zhang, Ziheng; Yang, Minghan; Li, Huijuan; Chen, Shuai; Wang, Jianye; Xu, Lei
-
Radiomics nomogram for predicting axillary lymph node metastasis in breast cancer based on DCE-MRI: A multicenter study
Author: Zhang, Jiwen; Zhang, Zhongsheng; Mao, Ning; Zhang, Haicheng; Gao, Jing; Wang, Bin; Ren, Jianlin; Liu, Xin; Zhang, Binyue; Dou, Tingyao; Li, Wenjuan; Wang, Yanhong; Jia, Hongyan
英文介紹
Journal Of X-ray Science And Technology雜志英文介紹
Research areas within the scope of the journal include:
Interaction of x-rays with matter: x-ray phenomena, biological effects of radiation, radiation safety and optical constants
X-ray sources: x-rays from synchrotrons, x-ray lasers, plasmas, and other sources, conventional or unconventional
Optical elements: grazing incidence optics, multilayer mirrors, zone plates, gratings, other diffraction optics
Optical instruments: interferometers, spectrometers, microscopes, telescopes, microprobes
中科院SCI分區(qū)
Journal Of X-ray Science And Technology雜志中科院分區(qū)信息
| 2023年12月升級版 |
綜述：否
TOP期刊：否
大類：醫(yī)學(xué) 3區(qū)
小類：
INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION OPTICS PHYSICS, APPLIED |
| 2022年12月升級版 |
綜述：否
TOP期刊：否
大類：醫(yī)學(xué) 4區(qū)
小類：
INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION OPTICS PHYSICS, APPLIED |
| 2021年12月舊的升級版 |
綜述：否
TOP期刊：否
大類：醫(yī)學(xué) 4區(qū)
小類：
INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION OPTICS PHYSICS, APPLIED |
| 2021年12月基礎(chǔ)版 |
綜述：否
TOP期刊：否
大類：醫(yī)學(xué) 4區(qū)
小類：
INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION OPTICS PHYSICS, APPLIED |
| 2021年12月升級版 |
綜述：否
TOP期刊：否
大類：醫(yī)學(xué) 4區(qū)
小類：
INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION OPTICS PHYSICS, APPLIED |
| 2020年12月舊的升級版 |
綜述：否
TOP期刊：否
大類：醫(yī)學(xué) 4區(qū)
小類：
INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION OPTICS PHYSICS, APPLIED |
中科院SCI分區(qū)：是中國科學(xué)院文獻(xiàn)情報(bào)中心科學(xué)計(jì)量中心的科學(xué)研究成果。期刊分區(qū)表自2004年開始發(fā)布，延續(xù)至今；2019年推出升級版，實(shí)現(xiàn)基礎(chǔ)版、升級版并存過渡，2022年只發(fā)布升級版，期刊分區(qū)表數(shù)據(jù)每年底發(fā)布。 中科院分區(qū)為4個(gè)區(qū)。中科院分區(qū)采用刊物前3年影響因子平均值進(jìn)行分區(qū),即前5%為該類1區(qū)，6%～20%為2區(qū)、21%～50%為3區(qū)，其余的為4區(qū)。1區(qū)和2區(qū)雜志很少，雜志質(zhì)量相對也高，基本都是本領(lǐng)域的頂級期刊。
JCR分區(qū)（2023-2024年最新版）
Journal Of X-ray Science And Technology雜志 JCR分區(qū)信息
| 按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū) |
學(xué)科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
收錄子集：SCIE
分區(qū)：Q3
排名：44 / 76
百分位：
42.8% 學(xué)科：OPTICS
收錄子集：SCIE
分區(qū)：Q3
排名：73 / 119
百分位：
39.1% 學(xué)科：PHYSICS, APPLIED
收錄子集：SCIE
分區(qū)：Q3
排名：125 / 179
百分位：
30.4% |
| 按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū) |
學(xué)科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
收錄子集：SCIE
分區(qū)：Q2
排名：35 / 76
百分位：
54.61% 學(xué)科：OPTICS
收錄子集：SCIE
分區(qū)：Q2
排名：59 / 120
百分位：
51.25% 學(xué)科：PHYSICS, APPLIED
收錄子集：SCIE
分區(qū)：Q2
排名：77 / 179
百分位：
57.26% |
JCR分區(qū)：JCR分區(qū)來自科睿唯安公司,JCR是一個(gè)獨(dú)特的多學(xué)科期刊評價(jià)工具，為唯一提供基于引文數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)信息的期刊評價(jià)資源。每年發(fā)布的JCR分區(qū)，設(shè)置了254個(gè)具體學(xué)科。JCR分區(qū)根據(jù)每個(gè)學(xué)科分類按照期刊當(dāng)年的影響因子高低將期刊平均分為4個(gè)區(qū)，分別為Q1、Q2、Q3和Q4，各占25%。JCR分區(qū)中期刊的數(shù)量是均勻分為四個(gè)部分的。
CiteScore 評價(jià)數(shù)據(jù)（2024年最新版）
Journal Of X-ray Science And Technology雜志CiteScore 評價(jià)數(shù)據(jù)
- CiteScore 值：4.9
- SJR：0.501
- SNIP：0.791
| 學(xué)科類別 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 大類：Medicine 小類：Radiology, Nuclear Medicine and Imaging | Q2 | 103 / 333 |
69% |
| 大類：Medicine 小類：Radiation | Q2 | 19 / 58 |
68% |
| 大類：Medicine 小類：Instrumentation | Q2 | 46 / 141 |
67% |
| 大類：Medicine 小類：Condensed Matter Physics | Q2 | 141 / 434 |
67% |
| 大類：Medicine 小類：Electrical and Electronic Engineering | Q2 | 264 / 797 |
66% |
歷年影響因子和期刊自引率
投稿經(jīng)驗(yàn)
Journal Of X-ray Science And Technology雜志投稿經(jīng)驗(yàn)
該雜志是一本國際優(yōu)秀雜志，在國際上有較高的學(xué)術(shù)影響力，行業(yè)關(guān)注度很高，已被國際權(quán)威數(shù)據(jù)庫SCIE收錄，該雜志在INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION綜合專業(yè)領(lǐng)域?qū)I(yè)度認(rèn)可很高，對稿件內(nèi)容的創(chuàng)新性和學(xué)術(shù)性要求很高，作為一本國際優(yōu)秀雜志，一般投稿過審時(shí)間都較長，投稿過審時(shí)間平均 約3.0個(gè)月 ，如果想投稿該刊要做好時(shí)間安排。版面費(fèi)不祥。該雜志近兩年未被列入預(yù)警名單，建議您投稿。如您想了解更多投稿政策及投稿方案，請咨詢客服。
免責(zé)聲明
若用戶需要出版服務(wù)，請聯(lián)系出版商：IOS PRESS, NIEUWE HEMWEG 6B, AMSTERDAM, NETHERLANDS, 1013 BG。
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